TY  - RPRT
TI  - Phase-field study on the segregation mechanism of Cr to lamellar interface in C40-NbSi2/C11b-MoSi2 duplex silicide
AU  - Toshihiro Yamazaki
AU  - Yuichiro Koizumi
AU  - Akihiko Chiba
AU  - Koji Hagihara
AU  - Takayoshi Nakano
AU  - Koretaka Yuge
AU  - Kyosuke Kishida
AU  - Haruyuki Inui
PY  - 2013
UR  - https://arxiv.org/abs/1305.4517
ID  - 1305.4517
ER  -