TY  - RPRT
TI  - Combined coherent x-ray micro-diffraction and local mechanical loading on copper nanocrystals
AU  - G. Beutier
AU  - M. Verdier
AU  - M. De Boissieu
AU  - B. Gilles
AU  - F. Livet
AU  - M. -I. Richard
AU  - T. W. Cornelius
AU  - S. Labat
AU  - O. Thomas
PY  - 2013
DO  - 10.1088/1742-6596/425/13/132003
UR  - https://arxiv.org/abs/1305.7013
ID  - 1305.7013
ER  -