TY  - RPRT
TI  - Leaky mode analysis of luminescent thin films: the case of ZnO on sapphire
AU  - Roy Aad
AU  - Laurent Divay
AU  - Aurelien Bruyant
AU  - Sylvain Blaize
AU  - Christophe Couteau
AU  - Dave John Rogers
AU  - Gilles Lerondel
PY  - 2013
UR  - https://arxiv.org/abs/1307.0892
ID  - 1307.0892
ER  -