TY  - RPRT
TI  - Measurement of thin films using very long acoustic wavelengths
AU  - G. T. Clement
AU  - H. Nomura
AU  - H. Adachi
AU  - T. Kamakura
PY  - 2013
DO  - 10.1063/1.4852416
UR  - https://arxiv.org/abs/1310.1413
ID  - 1310.1413
ER  -