TY  - RPRT
TI  - Efficient and realistic device modeling from atomic detail to the nanoscale
AU  - J. E. Fonseca
AU  - T. Kubis
AU  - M. Povolotskyi
AU  - B. Novakovic
AU  - A. Ajoy
AU  - G. Hegde
AU  - H. Ilatikhameneh
AU  - Z. Jiang
AU  - P. Sengupta
AU  - Y. Tan
AU  - G. Klimeck
PY  - 2013
DO  - 10.1007/s10825-013-0509-0
UR  - https://arxiv.org/abs/1310.4805
ID  - 1310.4805
ER  -