TY  - RPRT
TI  - Tunneling Electroresistance Induced by Interfacial Phase Transitions in Ultrathin Oxide Heterostructures
AU  - Lu Jiang
AU  - Woo Seok Choi
AU  - Hyoungjeen Jeen
AU  - Shuai Dong
AU  - Yunseok Kim
AU  - Myung-Geun Han
AU  - Yimei Zhu
AU  - Sergei V. Kalinin
AU  - Elbio Dagotto
AU  - Takeshi Egami
AU  - Ho Nyung Lee
PY  - 2013
DO  - 10.1021/nl4025598
UR  - https://arxiv.org/abs/1311.4874
ID  - 1311.4874
ER  -