TY  - RPRT
TI  - Extreme ultraviolet radiation induced defects in single-layer graphene
AU  - A. Gao
AU  - E. Zoethout
AU  - J. M. Sturm
AU  - C. J. Lee
AU  - F. Bijkerk
PY  - 2014
UR  - https://arxiv.org/abs/1401.2352
ID  - 1401.2352
ER  -