TY  - RPRT
TI  - Domain Wall Roughness in Stripe Phase BiFeO$_3$ Thin Films
AU  - B. Ziegler
AU  - K. Martens
AU  - T. Giamarchi
AU  - P. Paruch
PY  - 2014
DO  - 10.1103/physrevlett.111.247604
UR  - https://arxiv.org/abs/1402.3919
ID  - 1402.3919
ER  -