TY  - RPRT
TI  - Imaging and characterization of conducting ferroelectric domain walls by photoemission electron microscopy
AU  - J. Schaab
AU  - I. P. Krug
AU  - F. Nickel
AU  - D. M. Gottlob
AU  - H. Doğanay
AU  - A. Cano
AU  - M. Hentschel
AU  - Z. Yan
AU  - E. Bourret
AU  - C. M. Schneider
AU  - R. Ramesh
AU  - D. Meier
PY  - 2014
DO  - 10.1063/1.4879260
UR  - https://arxiv.org/abs/1405.2053
ID  - 1405.2053
ER  -