TY  - RPRT
TI  - The Effect of Dielectric Capping on Few-Layer Phosphorene Transistors: Tuning the Schottky Barrier Heights
AU  - Han Liu
AU  - Adam T. Neal
AU  - Mengwei Si
AU  - Yuchen Du
AU  - Peide D. Ye
PY  - 2014
UR  - https://arxiv.org/abs/1405.3010
ID  - 1405.3010
ER  -