TY  - RPRT
TI  - Influence of Topological Edge States on the Properties of Al/Bi2Se3/Al Hybrid Josephson Devices
AU  - L. Galletti
AU  - S. Charpentier
AU  - M. Iavarone
AU  - P. Lucignano
AU  - D. Massarotti
AU  - R. Arpaia
AU  - Y. Suzuki
AU  - K. Kadowaki
AU  - T Bauch
AU  - A. Tagliacozzo
AU  - F. Tafuri
AU  - F. Lombardi
PY  - 2014
DO  - 10.1103/physrevb.89.134512
UR  - https://arxiv.org/abs/1406.0703
ID  - 1406.0703
ER  -