TY  - RPRT
TI  - XRD fitting analysis of semiconductor heterostructures [Puolijohderakenteiden röntgendiffraktion sovitusanalyysi] (in Finnish)
AU  - Juha-Matti Tilli
PY  - 2014
UR  - https://arxiv.org/abs/1406.0814
ID  - 1406.0814
ER  -