TY  - RPRT
TI  - A low-temperature device architecture for the statistical study of electrical characteristics of 256 quantum devices
AU  - H. Al-Taie
AU  - L. W. Smith
AU  - B. Xu
AU  - P. See
AU  - J. P. Griffiths
AU  - H. E. Beere
AU  - G. A. C. Jones
AU  - D. A. Ritchie
AU  - M. J. Kelly
AU  - C. G. Smith
PY  - 2014
UR  - https://arxiv.org/abs/1407.5806
ID  - 1407.5806
ER  -