TY  - RPRT
TI  - Quantitative study of valence and configuration interaction parameters of the Kondo semiconductors CeM2Al10 (M = Ru, Os and Fe) by means of bulk-sensitive hard x-ray photoelectron spectroscopy
AU  - F. Strigari
AU  - M. Sundermann
AU  - Y. Muro
AU  - K. Yutani
AU  - T. Takabatake
AU  - K. -D. Tsuei
AU  - Y. F. Liao
AU  - A. Tanaka
AU  - P. Thalmeier
AU  - M. W. Haverkort
AU  - L. H. Tjeng
AU  - A. Severing
PY  - 2015
DO  - 10.1016/j.elspec.2015.01.004
UR  - https://arxiv.org/abs/1409.6552
ID  - 1409.6552
ER  -