TY  - RPRT
TI  - A versatile LabVIEW and FPGA-based scanned probe microscope for in-operando electronic device characterization
AU  - Andrew J. Berger
AU  - Michael R. Page
AU  - Jan Jacob
AU  - Justin R. Young
AU  - Jim Lewis
AU  - Lothar Wenzel
AU  - Vidya P. Bhallamudi
AU  - Ezekiel Johnston-Halperin
AU  - Denis V. Pelekhov
AU  - P. Chris Hammel
PY  - 2014
DO  - 10.1063/1.4902934
UR  - https://arxiv.org/abs/1410.0577
ID  - 1410.0577
ER  -