TY  - RPRT
TI  - In-Situ Measurements of the Secondary Electron Yield in an Accelerator Environment: Instrumentation and Methods
AU  - W. H. Hartung
AU  - D. M. Asner
AU  - J. V. Conway
AU  - C. A. Dennett
AU  - S. Greenwald
AU  - J. -S. Kim
AU  - Y. Li
AU  - T. P. Moore
AU  - V. Omanovic
AU  - M. A. Palmer
AU  - C. R. Strohman
PY  - 2014
DO  - 10.1016/j.nima.2015.01.092
UR  - https://arxiv.org/abs/1412.3477
ID  - 1412.3477
ER  -