TY  - RPRT
TI  - Multilayer graphene, Moiré patterns, grain boundaries and defects identified by scanning tunneling microscopy on the m-plane, non-polar surface of SiC
AU  - P. Xu
AU  - D. Qi
AU  - J. K. Schoelz
AU  - J. Thompson
AU  - P. M. Thibado
AU  - V. D. Wheeler
AU  - L. O. Nyakiti
AU  - R. L. Myers-Ward
AU  - C. R. Eddy Jr.
AU  - D. K. Gaskill
AU  - M. Neek-Amal
AU  - F. M. Peeters
PY  - 2014
UR  - https://arxiv.org/abs/1412.8680
ID  - 1412.8680
ER  -