TY  - RPRT
TI  - Electronic depth profiles with atomic layer resolution from resonant soft x-ray reflectivity
AU  - M. Zwiebler
AU  - J. E. Hamann-Borrero
AU  - M. Vafaee
AU  - P. Komissinskiy
AU  - S. Macke
AU  - R. Sutarto
AU  - F. He
AU  - B. Büchner
AU  - G. A. Sawatzky
AU  - L. Alff
AU  - J. Geck
PY  - 2015
DO  - 10.1088/1367-2630/17/8/083046
UR  - https://arxiv.org/abs/1501.03388
ID  - 1501.03388
ER  -