TY  - RPRT
TI  - A new LEED Instrument for Quantitative Spot Profile Analysis
AU  - U. Scheithauer
AU  - G. Meyer
AU  - M. Henzler
PY  - 2015
DO  - 10.1016/0039-6028(86)90321-3
UR  - https://arxiv.org/abs/1501.07389
ID  - 1501.07389
ER  -