TY  - RPRT
TI  - Effect of edge dislocations on structural and electric properties of 4H-SiC
AU  - Jan Łażewski
AU  - Paweł T. Jochym
AU  - Przemysław Piekarz
AU  - Małgorzata Sternik
AU  - Krzysztof Parlinski
AU  - Jan Cholewiński
AU  - Paweł Dłużewski
AU  - Stanisław Krukowski
PY  - 2015
DO  - 10.1007/s10853-019-03630-5
UR  - https://arxiv.org/abs/1502.00309
ID  - 1502.00309
ER  -