TY  - RPRT
TI  - In-situ spectroscopy of intrinsic Bi2Te3 topological insulator thin films and impact of extrinsic defects
AU  - P. Ngabonziza
AU  - R. Heimbuch
AU  - N. de Jong
AU  - R. A. Klaassen
AU  - M. P. Stehno
AU  - M. Snelder
AU  - A. Solmaz
AU  - S. V. Ramankutty
AU  - E. Frantzeskakis
AU  - E. van Heumen
AU  - G. Koster
AU  - M. S. Golden
AU  - H. J. W. Zandvliet
AU  - A. Brinkman
PY  - 2015
DO  - 10.1103/physrevb.92.035405
UR  - https://arxiv.org/abs/1502.01185
ID  - 1502.01185
ER  -