TY  - RPRT
TI  - Non-exponential Fidelity Decay in Randomized Benchmarking with Low-Frequency Noise
AU  - M. A. Fogarty
AU  - M. Veldhorst
AU  - R. Harper
AU  - C. H. Yang
AU  - S. D. Bartlett
AU  - S. T. Flammia
AU  - A. S. Dzurak
PY  - 2015
DO  - 10.1103/physreva.92.022326
UR  - https://arxiv.org/abs/1502.05119
ID  - 1502.05119
ER  -