TY  - RPRT
TI  - Indium Tin Oxide film characterization using the classical Hall effect
AU  - Laurens Willems van Beveren
AU  - Evgeniy Panchenko
AU  - Nik Anachi
AU  - Lachlan Hyde
AU  - Dan Smith
AU  - Timothy James
AU  - Ann Roberts
AU  - Jeffrey McCallum
PY  - 2015
DO  - 10.1109/commad.2014.7038675
UR  - https://arxiv.org/abs/1503.03679
ID  - 1503.03679
ER  -