TY  - RPRT
TI  - Birefringence Measurements on Crystalline Silicon
AU  - Christoph Krüger
AU  - Daniel Heinert
AU  - Alexander Khalaidovski
AU  - Jessica Steinlechner
AU  - Ronny Nawrodt
AU  - Roman Schnabel
AU  - Harald Lück
PY  - 2015
DO  - 10.1088/0264-9381/33/1/015012
UR  - https://arxiv.org/abs/1504.06503
ID  - 1504.06503
ER  -