TY  - RPRT
TI  - Formation of In-plane Skyrmions in Epitaxial MnSi Thin Films as Revealed by Planar Hall Effect
AU  - T. Yokouchi
AU  - N. Kanazawa
AU  - A. Tsukazaki
AU  - Y. Kozuka
AU  - A. Kikkawa
AU  - Y. Taguchi
AU  - M. Kawasaki
AU  - M. Ichikawa
AU  - F. Kagawa
AU  - Y. Tokura
PY  - 2015
DO  - 10.7566/jpsj.84.104708
UR  - https://arxiv.org/abs/1506.04821
ID  - 1506.04821
ER  -