TY  - RPRT
TI  - Evolution of electronic states in n-type copper oxide superconductor via electric double layer gating
AU  - Kui Jin
AU  - Wei Hu
AU  - Beiyi Zhu
AU  - Dohun Kim
AU  - Jie Yuan
AU  - Tao Xiang
AU  - Michael S. Fuhrer
AU  - Ichiro Takeuchi
AU  - Richard L. Greene
PY  - 2015
UR  - https://arxiv.org/abs/1506.05727
ID  - 1506.05727
ER  -