TY  - RPRT
TI  - The Effect of Polar Fluctuation and Lattice Mismatch on Carrier Mobility at Oxide Interfaces
AU  - Z. Huang
AU  - K. Han
AU  - S. W. Zeng
AU  - M. Motapothula
AU  - W. M. Lü
AU  - C. J. Li
AU  - W. X. Zhou
AU  - J. M. D. Coey
AU  - T. Venkatesan
AU  - Ariando
PY  - 2015
DO  - 10.1021/acs.nanolett.5b04814
UR  - https://arxiv.org/abs/1507.01675
ID  - 1507.01675
ER  -