TY  - RPRT
TI  - Structural defects and electronic structure of N-ion implanted TiO2: bulk versus thin film
AU  - D. A. Zatsepin
AU  - D. W. Boukhvalov
AU  - E. Z. Kurmaev
AU  - I. S. Zhidkov
AU  - N. V. Gavrilov
AU  - M. A. Korotin
AU  - S. S. Kim
PY  - 2015
DO  - 10.1016/j.apsusc.2015.07.190
UR  - https://arxiv.org/abs/1507.07647
ID  - 1507.07647
ER  -