TY - RPRT TI - Spitzer Microlens Measurement of a Massive Remnant in a Well-Separated Binary AU - Y. Shvartzvald AU - A. Udalski AU - A. Gould AU - C. Han AU - V. Bozza AU - M. Friedmann AU - M. Hundertmark AU - C. Beichman AU - G. Bryden AU - S. Calchi Novati AU - S. Carey AU - M. Fausnaugh AU - B. S. Gaudi AU - C. B. Henderson AU - T. Kerr AU - R. W. Pogge AU - W. Varricatt AU - B. Wibking AU - J. C. Yee AU - W. Zhu AU - R. Poleski AU - M. Pawlak AU - M. K. Szymański AU - J. Skowron AU - P. Mróz AU - S. Kozłowski AU - Ł. Wyrzykowski AU - P. Pietrukowicz AU - G. Pietrzyński AU - I. Soszyński AU - K. Ulaczyk AU - J. -Y. Choi AU - H. Park AU - Y. K. Jung AU - I. -G. Shin AU - M. D. Albrow AU - B. -G. Park AU - S. -L. Kim AU - C. -U. Lee AU - S. -M. Cha AU - D. -J. Kim AU - Y. Lee AU - D. Maoz AU - S. Kaspi AU - R. A. Street AU - Y. Tsapras AU - E. Bachelet AU - M. Dominik AU - D. M. Bramich AU - Keith Horne AU - C. Snodgrass AU - I. A. Steele AU - J. Menzies AU - R. Figuera Jaimes AU - J. Wambsganss AU - R. Schmidt AU - A. Cassan AU - C. Ranc AU - S. Mao AU - Subo Dong AU - G. D'Ago AU - G. Scarpetta AU - P. Verma AU - U. G. Jørgensen AU - E. Kerins AU - J. Skottfelt PY - 2015 DO - 10.1088/0004-637x/814/2/111 UR - https://arxiv.org/abs/1508.06636 ID - 1508.06636 ER -