TY  - RPRT
TI  - In-Line-Test of Variability and Bit-Error-Rate of HfOx-Based Resistive Memory
AU  - B. L. Ji
AU  - H. Li
AU  - Q. Ye
AU  - S. Gausepohl
AU  - S. Deora
AU  - D. Veksler
AU  - S. Vivekanand
AU  - H. Chong
AU  - H. Stamper
AU  - T. Burroughs
AU  - C. Johnson
AU  - M. Smalley
AU  - S. Bennett
AU  - V. Kaushik
AU  - J. Piccirillo
AU  - M. Rodgers
AU  - M. Passaro
AU  - M. Liehr
PY  - 2015
DO  - 10.1109/imw.2015.7150290
UR  - https://arxiv.org/abs/1509.00070
ID  - 1509.00070
ER  -