TY  - RPRT
TI  - Reliable determination of the Cu/n-Si Schottky barrier height by using in-device hot-electron spectroscopy
AU  - Subir Parui
AU  - Ainhoa Atxabal
AU  - Mário Ribeiro
AU  - Amilcar Bedoya-Pinto
AU  - Xiangnan Sun
AU  - Roger Llopis
AU  - Fèlix Casanova
AU  - Luis E. Hueso
PY  - 2015
DO  - 10.1063/1.4934885
UR  - https://arxiv.org/abs/1510.06854
ID  - 1510.06854
ER  -