TY  - RPRT
TI  - Growth, characterization, and transport properties of ternary (Bi1-xSbx)2Te3 topological insulator layers
AU  - C. Weyrich
AU  - M. Drögeler
AU  - J. Kampmeier
AU  - M. Eschbach
AU  - G. Mussler
AU  - T. Merzenich
AU  - T. Stoica
AU  - I. E. Batov
AU  - J. Schubert
AU  - L. Plucinski
AU  - B. Beschoten
AU  - C. M. Schneider
AU  - C. Stampfer
AU  - D. Grützmacher
AU  - Th. Schäpers
PY  - 2016
DO  - 10.1088/0953-8984/28/49/495501
UR  - https://arxiv.org/abs/1511.00965
ID  - 1511.00965
ER  -