TY  - RPRT
TI  - Thickness-dependent Dielectric Constant of Few-layer In2Se3 Nano-flakes
AU  - Di Wu
AU  - Alexander J. Pak
AU  - Yingnan Liu
AU  - Yu Zhou
AU  - Xiaoyu Wu
AU  - Yihan Zhu
AU  - Min Lin
AU  - Yu Han
AU  - Yuan Ren
AU  - Hailin Peng
AU  - Yu-Hao Tsai
AU  - Gyeong S. Hwang
AU  - Keji Lai
PY  - 2015
DO  - 10.1021/acs.nanolett.5b03575
UR  - https://arxiv.org/abs/1511.07325
ID  - 1511.07325
ER  -