TY  - RPRT
TI  - Investigating Reliability Aspects of Memristor based RRAM with Reference to Write Voltage and Frequency
AU  - T. D. Dongale
AU  - K. V. Khot
AU  - S. V. Mohite
AU  - N. K. Desai
AU  - S. S. Shinde
AU  - A. V. Moholkar
AU  - K. Y. Rajpure
AU  - P. N. Bhosale
AU  - P. S. Patil
AU  - P. K. Gaikwad
AU  - R. K. Kamat
PY  - 2016
UR  - https://arxiv.org/abs/1602.01947
ID  - 1602.01947
ER  -