TY  - RPRT
TI  - Lattice strain and tilt mapping in stressed Ge microstructures using X-ray Laue micro-diffraction and rainbow-filtering
AU  - Samuel Tardif
AU  - Alban Gassenq
AU  - Kevin Guilloy
AU  - Nicolas Pauc
AU  - Guilherme Osvaldo Dias
AU  - Jean-Michel Hartmann
AU  - Julie Widiez
AU  - Thomas Zabel
AU  - Esteban Marin
AU  - Hans Sigg
AU  - Jérôme Faist
AU  - Alexei Chelnokov
AU  - Vincent Reboud
AU  - Vincent Calvo
AU  - Jean-Sébastien Micha
AU  - Odile Robach
AU  - François Rieutord
PY  - 2016
UR  - https://arxiv.org/abs/1603.06370
ID  - 1603.06370
ER  -