TY  - RPRT
TI  - The influence of edge effects on the determination of the doping profile of silicon pad diodes
AU  - M. Hufschmidt
AU  - E. Fretwurst
AU  - E. Garutti
AU  - R. Klanner
AU  - I. Kopsalis
AU  - J. Schwandt
PY  - 2016
UR  - https://arxiv.org/abs/1605.00778
ID  - 1605.00778
ER  -