TY  - RPRT
TI  - Optical nano artifact metrics using silicon random nanostructures
AU  - Tsutomu Matsumoto
AU  - Naoki Yoshida
AU  - Shumpei Nishio
AU  - Morihisa Hoga
AU  - Yasuyuki Ohyagi
AU  - Naoya Tate
AU  - Makoto Naruse
PY  - 2016
UR  - https://arxiv.org/abs/1605.02120
ID  - 1605.02120
ER  -