TY  - RPRT
TI  - Achieving metrological precision limits through post-selection
AU  - G. Bié Alves
AU  - A. Pimentel
AU  - M. Hor-Meyll
AU  - S. P. Walborn
AU  - L. Davidovich
AU  - R. L. de Matos Filho
PY  - 2016
DO  - 10.1103/physreva.95.012104
UR  - https://arxiv.org/abs/1606.03478
ID  - 1606.03478
ER  -