TY  - RPRT
TI  - Optical Characterization of PtSi/Si by Spectroscopic Ellipsometry
AU  - Van Long Le
AU  - Tae Jung Kim
AU  - Han Gyeol Park
AU  - Hwa Seob Kim
AU  - Chang Hyun Yoo
AU  - Hyoung Uk Kim
AU  - Young Dong Kim
AU  - Junsoo Kim
AU  - Solyee Im
AU  - Won Chul Choi
AU  - Seung Eon Moon
AU  - Eun Soo Nam and
PY  - 2016
DO  - 10.3938/jkps.69.291
UR  - https://arxiv.org/abs/1606.03767
ID  - 1606.03767
ER  -