TY  - RPRT
TI  - Characterization of the second- and third-order nonlinear optical susceptibilities of monolayer MoS$_2$ using multiphoton microscopy
AU  - R. I. Woodward
AU  - R. T. Murray
AU  - C. F. Phelan
AU  - R. E. P. de Oliveira
AU  - T. H. Runcorn
AU  - E. J. R. Kelleher
AU  - S. Li
AU  - E. C. de Oliveira
AU  - G. J. M. Fechine
AU  - G. Eda
AU  - C. J. S. de Matos
PY  - 2016
UR  - https://arxiv.org/abs/1606.08093
ID  - 1606.08093
ER  -