TY  - RPRT
TI  - Signals induced by charge-trapping in EDELWEISS FID detectors: analytical modeling and applications
AU  - The EDELWEISS Collaboration
AU  - Q. Arnaud
AU  - E. Armengaud
AU  - C. Augier
AU  - A. Benoît
AU  - L. Bergé
AU  - J. Billard
AU  - J. Blümer
AU  - T. de Boissière
AU  - A. Broniatowski
AU  - P. Camus
AU  - A. Cazes
AU  - M. Chapellier
AU  - F. Charlieux
AU  - L. Dumoulin
AU  - K. Eitel
AU  - N. Foerster
AU  - N. Fourches
AU  - J. Gascon
AU  - A. Giuliani
AU  - M. Gros
AU  - L. Hehn
AU  - G. Heuermann
AU  - M. De Jésus
AU  - Y. Jin
AU  - A. Juillard
AU  - M. Kleifges
AU  - V. Kozlov
AU  - H. Kraus
AU  - C. Kéfélian
AU  - V. A. Kudryavtsev
AU  - H. Le-Sueur
AU  - S. Marnieros
AU  - X. -F. Navick
AU  - C. Nones
AU  - E. Olivieri
AU  - P. Pari
AU  - B. Paul
AU  - M. -C. Piro
AU  - D. Poda
AU  - E. Queguiner
AU  - S. Rozov
AU  - V. Sanglard
AU  - B. Schmidt
AU  - S. Scorza
AU  - B. Siebenborn
AU  - D. Tcherniakhovski
AU  - L. Vagneron
AU  - M. Weber
AU  - E. Yakushev
PY  - 2016
DO  - 10.1088/1748-0221/11/10/p10008
UR  - https://arxiv.org/abs/1606.08097
ID  - 1606.08097
ER  -