TY  - RPRT
TI  - Interface-driven topological Hall effect in SrRuO$_3$-SrIrO$_3$ bilayer
AU  - J. Matsuno
AU  - N. Ogawa
AU  - K. Yasuda
AU  - F. Kagawa
AU  - W. Koshibae
AU  - N. Nagaosa
AU  - Y. Tokura
AU  - M. Kawasaki
PY  - 2016
DO  - 10.1126/sciadv.1600304
UR  - https://arxiv.org/abs/1607.07536
ID  - 1607.07536
ER  -