TY  - RPRT
TI  - A metric for wettability at the nanoscale
AU  - Ronaldo Giro
AU  - Peter W. Bryant
AU  - Michael Engel
AU  - Rodrigo F. Neumann
AU  - Mathias Steiner
PY  - 2016
DO  - 10.1038/srep46317
UR  - https://arxiv.org/abs/1608.08250
ID  - 1608.08250
ER  -