TY  - RPRT
TI  - Optical thermometry based on level anticrossing in silicon carbide
AU  - A. N. Anisimov
AU  - D. Simin
AU  - V. A. Soltamov
AU  - S. P. Lebedev
AU  - P. G. Baranov
AU  - G. V. Astakhov
AU  - V. Dyakonov
PY  - 2016
DO  - 10.1038/srep33301
UR  - https://arxiv.org/abs/1609.06451
ID  - 1609.06451
ER  -