TY  - RPRT
TI  - A Study of the Impact of High Cross Section ILC Processes on the SiD Detector Design
AU  - Timothy Barklow
AU  - Luc d`Hautuille
AU  - Christopher Milke
AU  - Bruce Schumm
AU  - Anne Schütz
AU  - Marcel Stanitzki
AU  - Jan Strube
PY  - 2016
UR  - https://arxiv.org/abs/1609.07816
ID  - 1609.07816
ER  -