TY  - RPRT
TI  - Direct Characterization of Band Bending in GaP/Si(001) Heterostructures with Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
AU  - Martin Schmid
AU  - Kunie Ishioka
AU  - Andreas Beyer
AU  - Benedikt P. Klein
AU  - Claudio K. Krug
AU  - Malte Sachs
AU  - Hrvoje Petek
AU  - Christopher J. Stanton
AU  - Wolfgang Stolz
AU  - Kerstin Volz
AU  - J. Michael Gottfried
AU  - Ulrich Höfer
PY  - 2016
UR  - https://arxiv.org/abs/1611.03785
ID  - 1611.03785
ER  -