TY  - RPRT
TI  - Measurements and TCAD Simulations of Bulk and Surface Radiation Damage Effects in Silicon Detectors
AU  - F. Moscatelli
AU  - P. Maccagnani
AU  - D. Passeri
AU  - G. M. Bilei
AU  - L. Servoli
AU  - A. Morozzi
AU  - G. -F. Dalla Betta
AU  - R. Mendicino
AU  - M. Boscardin
AU  - N. Zorzi
PY  - 2016
DO  - 10.1109/nssmic.2015.7581944
UR  - https://arxiv.org/abs/1611.10132
ID  - 1611.10132
ER  -