TY  - RPRT
TI  - Characterization of Fully Depleted CMOS Active Pixel Sensors on High Resistivity Substrates for Use in a High Radiation Environment
AU  - Toko Hirono
AU  - Marlon Barbero
AU  - Patrick Breugnon
AU  - Stéphanie Godiot
AU  - Tomasz Hemperek
AU  - Fabian Hügging
AU  - Jens Janssen
AU  - Hans Krüger
AU  - Jian Liu
AU  - Patrick Pangaud
AU  - Ivan Perić
AU  - David-Leon Pohl
AU  - Alexandre Rozanov
AU  - Piotr Rymaszewski
AU  - Norbert Wermes
PY  - 2016
DO  - 10.1109/nssmic.2016.8069902
UR  - https://arxiv.org/abs/1612.03154
ID  - 1612.03154
ER  -