TY  - RPRT
TI  - Radiation hard pixel sensors using high-resistive wafers in a 150 nm CMOS processing line
AU  - D. -L. Pohl
AU  - T. Hemperek
AU  - I. Caicedo
AU  - L. Gonella
AU  - F. Hügging
AU  - J. Janssen
AU  - H. Krüger
AU  - A. Macchiolo
AU  - N. Owtscharenko
AU  - L. Vigani
AU  - N. Wermes
PY  - 2017
DO  - 10.1088/1748-0221/12/06/p06020
UR  - https://arxiv.org/abs/1702.04953
ID  - 1702.04953
ER  -