TY  - RPRT
TI  - Thickness dependent electronic structure in WTe$_2$ thin films
AU  - Fei-Xiang Xiang
AU  - Ashwin Srinivasan
AU  - Oleh Klochan
AU  - Shi-Xue Dou
AU  - Alex R. Hamilton
AU  - Xiao-Lin Wang
PY  - 2017
DO  - 10.1103/physrevb.98.035115
UR  - https://arxiv.org/abs/1703.02741
ID  - 1703.02741
ER  -